Electronic CAD & Reliability Group

Sito Web: http://www.cad.polito.it

Attività di ricerca

L’attività di ricerca del CAD Group è centrata sullo sviluppo di strumenti (software e hardware) e metodologie per il supporto al progettista di circuiti e sistemi elettronici, con particolare riferimento ai problemi di collaudo, tolleranza ai guasti, validazione del progetto.

Le competenze acquisite nel corso degli anni includono:

  • collaudo (anche low-power) di circuiti e sistemi descritti a diversi livelli di astrazione
  • diagnosi
  • validazione della correttezza del progetto
  • collaudo e validazione di circuiti, con particolare attenzione ai microprocessori
  • valutazione dell’affidabilità (in particolare tramite tecniche di fault injection) di circuiti e sistemi descritti a diversi livelli di astrazione
  • tecniche per l’irrobustimento di circuiti e sistemi usati in applicazioni critiche dal punto di vista della sicurezza

Principali risultati di ricerca teorica

I principali contributi teorici prodotti dal gruppo sono:

  • Tecniche per la generazione automatica di programmi per la verifica ed il collaudo di microprocessori/microcontrollori
  • Tecniche per la diagnosi di circuiti e memorie
  • Tecniche per il progetto di sistemi basati su microprocessore tolleranti ai guasti
  • Tecniche per l’irrobustimento di FPGA
  • Tecniche per la valutazione

Principali risultati di ricerca applicata / trasferimento tecnologico

Il gruppo ha sviluppato una serie di tecniche nei settori di propria attività, che sono state utilizzate da varie aziende operanti nel settore, quali STMicroelectronics, Intel, iROC Technologies, FIAT, CRF.

In particolare il gruppo ha sviluppato tecniche per:

  • Il collaudo di System-on-Chip (SoC) utilizzando tecniche BIST e tenendo conto dello standard IEEE 1500
  • La generazione di programmi per la validazione ed il collaudo di microprocessori e microcontrollori
  • La diagnosi di circuiti digitali e memorie
  • La valutazione di circuiti e sistemi elettronici (anche complessi) tramite tecniche di fault injection
  • L’irrobustimento di dispositivi programmabili (FPGA)

Principali iniziative

I componenti del CAD Group partecipano attivamente all’organizzazione di vari eventi internazionali nei settori di loro competenza, quali lo IEEE European Test Symposium (ETS), IEEE Design and Test in Europe Conference (DATE), IEEE On-line Testing Symposium (IOLTS), IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) ed EvoHOT (European Workshop on Evolutionary Computation in Hardware Optimisation).

Progetti e contratti di ricerca

Personale di ricerca