Dottorando in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi , 36o ciclo (2020-2023)
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Profilo
Dottorato di ricerca
Titolo della tesi
New techniques for quality and reliability enhancement in electronic systems
Argomento di ricerca
Sviluppo di strategie per migliorare la qualita' e l'affidabilita' di sistemi elettronici.
Tutori
- Matteo Sonza Reorda
- Michelangelo Grosso
- Ioannis Deretzis
Presentazione della ricerca
Interessi di ricerca
Biografia
Dal 2019 lavora come physical design engineer presso STMicroelectronics.
Nel 2020 ha iniziato un programma di dottorato industriale congiunto con il Politecnico di Torino e il Consiglio Nazionale delle Ricerche (CNR).
I suoi interessi nell'ambito della ricerca includono il test e l'affidabilità dei circuiti integrati digitali e l'ottimizzazione dei flussi di progettazione fisica.
Pubblicazioni
Pubblicazioni più recenti Vedi tutte le pubblicazioni su Porto@Iris
- Mirabella, Nunzio; Floridia, Andrea; Cantoro, Riccardo; Grosso, Michelangelo; Sonza ... (In stampa)
Targeting different defect-oriented fault models in IC testing: an experimental approach. In: 26th Euromicro Conference Series on Digital System Design (DSD), Durres (ALB), 6-8 September, 2023, pp. 1-6
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Mirabella, Nunzio; Floridia, Andrea; Cantoro, Riccardo; Grosso, Michelangelo; Sonza ... (2022)
A comparative overview of ATPG flows targeting traditional and cell-aware fault models. In: 29th IEEE International Conference on Electronics Circuits and Systems (ICECS), Glasgow, 24th - 26th October 2022, pp. 1-4
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, P.; Cantoro, R.; Coyette, A.; Dobbeleare, W.; Fieback, M.; Floridia, A.; ... (2022)
Recent Trends and Perspectives on Defect-Oriented Testing. In: The 28th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), Torino (Italy), 12-14 September 2022
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Mirabella, N.; Grosso, M.; Franchino, G.; Rinaudo, S.; Deretzis, I.; La Magna, A.; ... (2022)
An Experimental Evaluation of Resistive Defects and Different Testing Solutions in Low-Power Back-Biased SRAM Cells. In: ELECTRONICS, vol. 11. ISSN 2079-9292
Contributo su Rivista - Mirabella, Nunzio; Ricci, Maurizio; Calà, Ignazio; Lanza, Roberto; Grosso, Michelangelo (2021)
Testing single via related defectsin digital VLSI designs. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, vol. 120. ISSN 0026-2714
Contributo su Rivista